相控陣超聲檢測(cè)技術(shù)(PAUT)是一種新型超聲波檢測(cè)技術(shù),配合機(jī)械裝置以及軟件的操作,能夠同時(shí)實(shí)現(xiàn)A掃描、B掃描和S掃描等二維視圖,將檢測(cè)對(duì)象數(shù)字化,多角度掃查,準(zhǔn)確定位缺陷位置,并可精確測(cè)量缺陷的長(zhǎng)度、深度及高度等信息。目前,常用來(lái)替代射線檢測(cè)。
當(dāng)您需要不破壞被檢測(cè)件,并產(chǎn)生這些需求時(shí)(不限于列舉項(xiàng)):
1、產(chǎn)品檢測(cè)數(shù)據(jù)需要存儲(chǔ);
2、超聲檢測(cè)方案可記錄;
3、檢查不影響生產(chǎn)進(jìn)度;
4、射線輻射而要隔離。
如果您有上述的檢測(cè)需求,那么相控陣超聲檢測(cè)技術(shù)(PAUT)將成為您理想的解決方案。