在工程建設(shè)當(dāng)中,如果防水材料不符合相關(guān)要求,將可能導(dǎo)致工程項(xiàng)目在后期運(yùn)營中出現(xiàn)一系列弊端,嚴(yán)重威脅到工程的安全性及建筑工程的舒適性等,因此,須加強(qiáng)對建筑防水材料的質(zhì)量把控,按照相關(guān)方法對其進(jìn)行科學(xué)的質(zhì)量檢測。
在建筑防水材料的質(zhì)量檢測方面,《建筑防水材料老化試驗(yàn)方法》(GB/T 18244-2022)已于2023年2月1日開始實(shí)施,相對于原標(biāo)準(zhǔn)《建筑防水材料老化試驗(yàn)方法》(GB/T 18244-2000),現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)有多處技術(shù)相關(guān)內(nèi)容進(jìn)行了調(diào)整。這些調(diào)整與具體試驗(yàn)操作和檢測結(jié)果密切相關(guān),需要大家重點(diǎn)關(guān)注。
對于試驗(yàn)的一般規(guī)定,實(shí)驗(yàn)室標(biāo)準(zhǔn)溫度條件并無變化,依然是23℃±2℃,但相對濕度確有所調(diào)整,由原來的45%~70%調(diào)整為40%~60%,縮小了對濕度要求的變化區(qū)間。之所以要對溫濕度條件進(jìn)行嚴(yán)格限制,是因?yàn)闄z測環(huán)境溫度、濕度變化,非常有可能對檢測結(jié)果產(chǎn)生不良影響。例如,若所處環(huán)境溫度低、濕度大,防水材料會逐漸硬化,脆性變大,從而導(dǎo)致防水材料性能下降。因此,對溫度、濕度條件的把控至關(guān)重要,在試驗(yàn)過程中應(yīng)嚴(yán)格按照現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。
現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 18244-2022中,明確要求熱空氣老化試驗(yàn)箱應(yīng)符合GB/T 11026.4規(guī)定,因此并沒有再一一列舉平均風(fēng)速、工作溫度、溫度均勻性等對熱空氣老化試驗(yàn)箱的各項(xiàng)具體要求。由于試驗(yàn)結(jié)果與熱空氣老化試驗(yàn)箱的狀態(tài)條件有較為直接的關(guān)系,因此一定要試驗(yàn)時(shí)試驗(yàn)箱符合相關(guān)條件。
此外,現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)還刪除了臭氧老化和人工氣候加速老化(碳弧燈)的試驗(yàn)方法。碳弧燈光老化試驗(yàn)方法的歷史較長,但其譜圖與太陽光的譜圖相差比較大,因此碳弧燈的檢測結(jié)果與產(chǎn)品的實(shí)際耐候性之間的相關(guān)性比較差。為了獲得更準(zhǔn)確的檢測結(jié)果,加上其他方面因素的影響,很多標(biāo)準(zhǔn)在更新時(shí)都逐漸刪除了碳弧燈光老化試驗(yàn)方法,以用更準(zhǔn)確的方法替代。
由于原標(biāo)準(zhǔn)GB/T 18244-2000附錄中相關(guān)內(nèi)容或在其他地方體現(xiàn),或被刪除,因此現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 18244-2022中刪除了原標(biāo)準(zhǔn)中附錄A~附錄G相關(guān)內(nèi)容。
現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)還更改了人工氣候加速老化有關(guān)氙弧燈與熒光紫外燈的技術(shù)條件。關(guān)于氙弧燈試驗(yàn),現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)明確應(yīng)采用日光濾光器的氙弧燈試驗(yàn)裝置,且應(yīng)符合GB/T 16422.2的規(guī)定。此外,還注明了用于仲裁時(shí),試驗(yàn)溫度采用黑標(biāo)溫度,對于常規(guī)的試驗(yàn),黑板溫度計(jì)可以代替黑標(biāo)溫度計(jì)使用,但由于兩者之間沒有相關(guān)性,所以在實(shí)際中不能將兩個(gè)溫度計(jì)的試驗(yàn)結(jié)果作對比。
現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)中,試驗(yàn)所用熒光紫外燈試驗(yàn)裝置應(yīng)符合GB/T 16422.3的規(guī)定,如果不是另有規(guī)定,應(yīng)采用UV A-340(1A型)熒光紫外燈。如果沒有使用自動輻照度控制系統(tǒng),為保持所需的輻照度,防止熒光紫外燈老化而影響試驗(yàn)結(jié)果,應(yīng)按照設(shè)備制造商給出的操作程序進(jìn)行調(diào)整。
無論標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容如何變化,試驗(yàn)過程中一些細(xì)節(jié)問題始終要嚴(yán)格把控,如試件安裝時(shí)應(yīng)將試件受檢區(qū)域以不受任何應(yīng)力的方式固定在設(shè)備中的試架上;每個(gè)試件應(yīng)在相應(yīng)位置作不易被消除的標(biāo)記并確保標(biāo)記位置不影響后續(xù)試驗(yàn);整個(gè)暴露過程中試驗(yàn) 條件保持不變等。
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